三攻一受4P嗯啊巨肉寝室,91精品国产福利在线观看,久久久久久女黄,国产成人精品白浆久久69

咨詢電話

13585156439

當前位置:首頁  >  技術(shù)文章  >  離子研磨儀在半導體失效分析中的應用案例分享

離子研磨儀在半導體失效分析中的應用案例分享

更新時間:2022-03-15      點擊次數(shù):2122

失效分析是對于電子元件失效原因進行診斷,在進行失效分析的過程中,往往需要借助儀器設備,以及化學類手段進行分析,以確認失效模式,判斷失效原因,研究失效機理,提出改善預防措施。其方法可以分為有損分析,無損分析,物理分析,化學分析等。其中在進行微觀形貌檢測的時候,尤其是需要觀察斷面或者內(nèi)部結(jié)構(gòu)時,需要用到離子研磨儀+掃描電鏡結(jié)合法,來進行失效分析研究。
離子研磨儀目前是普遍使用的制樣工具,可以進行不同角度的剖面切削以及表面的拋光和清潔處理,以制備出適合半導體故障分析的 SEM 用樣品。








©2025 南京智聯(lián)光學科技有限公司版權(quán)所有 All Rights Reserved.     備案號:蘇ICP備2021053417號-1

技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng)     管理登陸     sitemap.xml

靖州| 钟祥市| 葫芦岛市| 冀州市| 乐至县| 湖口县| 潮州市| 明星| 宁夏| 筠连县| 沾益县| 论坛| 精河县| 滨州市| 常山县| 富源县| 诏安县| 高雄市| 方山县| 蒙阴县| 铜川市| 娱乐| 乾安县| 麻城市| 蕉岭县| 武宁县| 婺源县| 三门峡市| 天等县| 枣庄市| 承德县| 翁源县| 哈巴河县| 呼伦贝尔市| 右玉县| 镇宁| 通辽市| 方山县| 平谷区| 睢宁县| 云南省|